Fjederbelastede PogoTest-stifter

Mange af de ting, vi har været involveret i, er helt sikkert på de avancerede noder. Den massive parallelitet af disse enheder driver folk til at bruge de mest avancerede siliciumknuder, især for den logiske del af det. Vi har set nogle projekter, der er forbløffende med hensyn til matricestørrelse og transistorantal. For en probekortproducent driver det et meget stort antal prober. For at få al strømmen ind er der nogle termiske kontrolproblemer forbundet med testen. Men hele testgrænsefladen for logiske chips nærmer sig nu de tal og skalaer, som vi så i hukommelsen for kun få år siden. Avancerede hukommelsessondekort for et par år siden havde måske 50,000 eller 60,000 sonder pr. kort. Vi sender sondekort med det antal sonder for også at teste nogle af disse AI-motorer. Omfanget af disse ting er forbløffende.

1637734182(1)

Fjederbelastede PogoTest-stifter

Vores teknologi giver en måde at fremstille sonder med mikron-niveau nøjagtighed for tilslutning til I/O og strøm på os. Probernes præcisionskarakteristika gør dem ideelle til den fine tonehøjde, høje pin-tællekrav fra førende halvlederprocesknuder og avanceret pakning, men ikke alle prober er skabt lige. Udnyttelse af beklædt metalteknologi til at muliggøre en række nye IC-frontier-elektronikinnovationer.

Spinrg-loaded Pogo test Pins

Fjederbelastede PogoTest-stifter

Det er nogle meget, meget store terninger. Når du tænker på tætheden og den rene kraft, du skal bruge for at komme ind i chippen, og så antallet af grænseflader, den har til omverdenen - det er meget komplicerede grænseflader og derfor meget komplicerede tests og testværktøjer. FormFactor foretog nogle virkelig store investeringer i MEMS-sondeteknologi, som er den eneste omkostningseffektive måde at komme til den slags tætheder og ydeevneniveauer, som folk har brug for for at teste denne slags chips. Der er tekniske udfordringer, men det er et virkelig interessant felt at være i, fordi du arbejder med nogle af de førende kunder i verden for at skubbe dette fremad.

Pin Probe

Fjederbelastede PogoTest-stifter

Til testdelen af forretningen fik du med ethvert givet engagement et meget interessant kundesæt. Det er normalt flere enheder på forskellige geografiske steder, du arbejder med på samme tid. Der er det fabelløse designhus, støberiet, og afhængigt af hvor testen udføres, kan der også være et testhus. Og meget af testprogramudviklingen går ind i nogle af områderne for algoritmeudvikling og derefter hvordan slutsystemet skal implementeres. Der er mange engagementer, hvor du ikke har én kunde. Du har tre kunder til et enkelt design. Og alle skal arbejde sammen og kommunikere godt, for at disse ting kan fungere.

Plated Gold Pogo Pin Probe

Fjederbelastede PogoTest-stifter

Mange af disse udfordringer er de samme temaer, som vi har set, da vi er gået fra 20nm ned til de første noder og derefter til 10 og 7nm. En af de største testudfordringer, som kunderne har, er kombinationen af effekttæthed og termisk kontrol - og forsøger at sikre, at transistorerne og den overordnede chippen, når de tester chippen, fungerer ved temperaturer, der er i overensstemmelse med almindelige brugstilfælde. Du kan køre et sæt testvektorer gennem en chip og producere en enorm mængde varme, som så forårsager nogle mærkelige fysiske interaktioner med den samlede test. Så både termisk kontrol, som det relaterer til gennemløbs- og teststrategier, og så mængden af strøm, du er i stand til at få ind og ud af chippen, er nogle af de største udfordringer, vi ser ved disse avancerede logiske noder. Der er en enorm krafttæthed.

Probe pogo pin