Belagt Guld Pogo Sonde

1637734182(1)

Belagt Guld Pogo Sonde

I betragtning af strukturens forskellige fysiske karakter vil du se forskellige fejltilstande. Men i det store og hele er testen abstraheret fra de enkelte transistorer, så jeg ved ikke, at du kommer til at se en stor forskel. Når som helst branchen gennemgår en af disse store arkitektoniske ændringer, ser du typisk et bump op i testintensiteten. De er nødt til at finde ud af, hvad de fejltilstande, der er forbundet med denne nye transistorstruktur, er, og den overordnede fysiske arkitektur. Vi så noget af det ved de første finFET-noder, hvad enten det var 22nm i mikroprocessorrummet eller 14/16nm i støberirummet.

Belagt Guld Pogo Sonde

Et godt eksempel på det er strømforsyning og / eller effektimpedansspecifikationer i sondekortet. Hvis du forsøger at levere al denne kraft ind i chippen fra testinstrumenteringen, bliver stien, hvorigennem du gør det, meget vigtigere, og specifikationerne skal være meget strammere. For fem år siden var sondekortets strømforsyningsydelse ikke så stor. Nu er det en stor designovervejelse, og det er en af grundene til, at vi ender med at arbejde så tæt sammen med fabless kunder. De forstår de forskellige tolerancer og specifikationer, som hver af disse strømforsyninger vil have. Nogle er lidt løsere, nogle skal være ekstremt stramme. Når du designer sondekortet, der er specifikt for hvert design, bliver det en af de største ydelsesproblemer.

Belagt Guld Pogo Sonde

Næsten alt det, vi gør, er enten bare matricer eller fuld wafer, så pakken ender med at blive et nedstrøms stykke af dette. Men du ser mange af de samme implikationer forbundet med strømforsyningen, der ender med at være begrænsninger i pakkedesignet. Historisk set var emballerede underlag ret enkle strukturer - et par lag metal, ikke mange virkelig strenge designkrav. Det har ændret sig. Nu ser vi meget mere komplicerede emballageunderlag med flere lag. Via tætheder går langt op. Du skal administrere og skræddersy strømforsyningens ydeevne. Dette bliver en stor ting - ikke kun for test på waferniveau med et sondekort, men også i den endelige pakke.

Belagt Guld Pogo Sonde

Du tester for at sikre, at hver af disse komponentforme er funktionelt god eller god nok til at blive repareret i den endelige pakke. Og fordi de fremstilles på ret avancerede noder - mindst 1x eller 1y nanometer DRAM-noder, er udbyttet ikke stort. Og så er det en simpel funktionel karakteristik af at sørge for, at matricen, der går ind i stakken, er så tæt på god, som de kan komme. Jeg er tilbageholdende med at bruge udtrykket 'kendt god dø', fordi det formidler forestillingen om en perfekt ting, og intet i halvlederindustrien er perfekt. Der er en balance mellem omkostninger og den risiko, som folk konstant leger med, og for DRAM er der et vist niveau af reparationsmuligheder og redundans. Så du ser alle de forskellige knapper blive udøvet. Men HBM har helt sikkert påvirket ikke kun mængderne af vores DRAM-sondekortforretning, men også specifikationskravene, da de fortsætter med at stramme dem op.

For pålidelighedsaspektet af nogle af disse nyere enheder finder folk stadig ud af dette. Men der er ting, der svarer til indbrænding og accelereret test, enten gennem temperatur- eller vibrationstest. De finder ud af forskellige måder at fremskynde de mest sandsynlige fejltilstande i marken eller ting, som folk er bekymrede for. Jeg har haft samtaler med flere kunder, men på dette tidspunkt er sikkerhedskopiering af de fulde funktionelle tests for disse enheder, både elektriske og optiske, hvor vi er fokuseret på dette punkt.

1645501389(1)